Цель работы заключалась в реализации автоматизированного нахождения объектов на изображении (нанообразований на эпитаксиальной пленке) при помощи нейросетевого алгоритма классификации данных и дальнейшей количественной характеризации этих объектов. Алгоритм работает следующим образом. Скользящее окно определенного размера последовательно проходит по всему изображению, выделяя фрагменты. Каждый такой фрагмент поступает на вход предварительно обученной нейронной сети (архитектура нейросети писалась самостоятельно, не переобучение), которая, в свою очередь, определяет, есть ли на данном фрагменте объект или нет. Если ответ нейросети положительный, то такой фрагмент сохраняется для дальнейшей, классической цифровой обработки изображений. В рамках данной работы классическая цифровая обработка представляет собой применение преобразования Хафа для определения геометрических параметров объектов. В дальнейшем проводится статистическая обработка этих параметров.
Точность определения объектов при помощи нейросети составила 99%.